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ASTM F 2073-2001 薄膜开关无损短路检验的标准试验方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-21 15:17:33  浏览:8980   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:StandardTestMethodforNon-DestructiveShortCircuitTestingofaMembraneSwitch
【原文标准名称】:薄膜开关无损短路检验的标准试验方法
【标准号】:ASTMF2073-2001
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2001
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:J04
【国际标准分类号】:31_220_20
【页数】:2P;A4
【正文语种】:英语


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【英文标准名称】:Graphicalsymbolsfordiagrams
【原文标准名称】:图表用图形符号
【标准号】:IEC60617SNAPSHOT-2009
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2009-02-06
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:Graphicalsymbolsfordiagrams
【中国标准分类号】:K04
【国际标准分类号】:
【页数】:2480P.;A4
【正文语种】:英语


Product Code:SAE AS85049/27
Title:Connector Accessories, Electrical, Backshell, Nonenvironmental, Straight, Self-Locking and Non-Self-Locking, Category 3B (For MIL-DTL-38999, Series I and II Connectors)
Issuing Committee:Ae-8c1 Connectors Committee
Scope:Amendment 1 of AS85049/27A.